Renesas Electronics Corporation AT45DQ161-MHD2B-T

AT45DQ161-MHD2B-T - Circuit intégré de mémoire flash SPI haute performance de 16 Mbit

L' AT45DQ161-MHD2B-T de Renesas Electronics Corporation est une mémoire Flash série 16 Mbit haut de gamme dotée d'une interface SPI/Quad E/S avancée. Conçue pour les applications embarquées, industrielles, automobiles et IoT exigeantes, cette puce Flash haute fiabilité offre des performances exceptionnelles grâce à une fréquence d'horloge de 85 MHz et une large plage de tension de fonctionnement de 2,5 V à 3,6 V.

Principales caractéristiques et avantages :

• Mémoire flash de 16 Mbits , organisée en pages de 512 octets × 4096 pour une gestion flexible des données.
• Interface d'E/S quadruple SPI - Communication série haut débit avec quadruple débit de données
• Fréquence d'horloge de 85 MHz - Opérations de lecture/écriture rapides pour les applications critiques en termes de temps.
• Plage de températures industrielles - Fonctionne de manière fiable de -40 °C à 85 °C
• Boîtier compact 8-UDFN - Conception compacte pour montage en surface de 5 × 6 mm avec pastille exposée
• Fonctionnement à faible consommation - Tension d'alimentation de 2,5 V à 3,6 V pour des conceptions écoénergétiques
• Conforme à la norme RoHS - Construction écologique et sans plomb

Cette puce de mémoire Flash non volatile est idéale pour le stockage de firmware, l'enregistrement de données, la gestion de la configuration et l'exécution de code dans les systèmes embarqués. Son architecture paginée, avec des cycles d'écriture de mots de 8 µs et de pages de 6 ms, garantit un traitement efficace des données pour les applications temps réel.

Spécifications techniques complètes

Applications et cas d'utilisation

Idéal pour les systèmes embarqués, les contrôleurs industriels, l'électronique automobile, les appareils IoT, les équipements médicaux, les infrastructures de télécommunications et toute application nécessitant un stockage de mémoire non volatile fiable avec des capacités d'interface série à haut débit.

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